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簡介： 對於故障分析而言微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具主要偵測IC內(nèi)部所放出光子在IC元件中EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)舉例說明在pn Junct 更多>

對於故障分析而言微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具主要偵測IC內(nèi)部所放出光子在IC元件中EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)舉例說明在pn Junction加偏壓此時n的電子很容易擴散到p而p的空穴也容易擴散至n然後與p端的空穴或n端的電子做 EHP Recombination