簡(jiǎn)介： 對(duì)於故障分析而言微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子在IC元件中EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會(huì)放出光子(Photon)舉例說(shuō)明在pn Junct 更多>
對(duì)於故障分析而言微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子在IC元件中EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會(huì)放出光子(Photon)舉例說(shuō)明在pn Junction加偏壓此時(shí)n的電子很容易擴(kuò)散到p而p的空穴也容易擴(kuò)散至n然後與p端的空穴或n端的電子做 EHP Recombination
